В книге дается краткое изложение элементарной теории полупроводников, описываются аппаратура и фотографические методы спектрального определения электрически активных и неактивных примесей и элементов основы в вгсъцполупроводниках Особое внимание уделяется методам постоянного графика, в частности методу двух нулевых эталонов Большое место отведено вопросам статистической обработки результатов, описанию процедуры качественного анализа, а также приемов приближенного спектральноговоттж анализа для исследования процессов кристаллизации полупроводников Приводятся оригинальные методы анализа термоэлектрических материалов Автор Анатолий Орлов.